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离子束分析仪(Ion Beam Profiler)

Photonis离子束分析仪用于离子束成像,提供分辨率高的黑白图像输出,用于分析带电粒子。

详情介绍


        新型的Photonis离子束分析仪实现任何带电粒子(离子,电子,UV光子或软X射线等)的可视化,100帧/秒的速度捕获图像,并将其存储在PC上可通过系统搭配做离子束轮廓分析,支持选通快门。

       可根据应用在订购时选择不同类型的微通道板,后端的Nocturn CMOS机可以输出NTSC、PAL或CameraLink兼容格式的SXGA(1280x1024)图像,计算机接口为千兆位以太网或USB3,用于实时视频或离子束特征图像的静态捕获。

产品特性

        高灵敏CMOS相机

        自定义微通道板

        模拟或数字图像

        离子损失和优化的实时反馈

技术参数 

MCPs的物理特性

探测器的电学特性

CMOS相机

使用直径 25, 40, 75, 100 mm

电子增益@2400V 1 x 107 Minimum

Nocturn XL Monochrome

MCP孔间距 6, 12, 32 µm

偏置电流范围20-199 mA@ 2400V

像素大小9.7 x 9.7 µm

 

电阻12-120 Megohms

像素数1280 x 1024

相关应用


        单光子测量;质谱仪;离子束分析;WMI;光谱学;

产品资料

        Ion-Beam-Profiler-Datasheet 


在线询价

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